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    • SuperViewW1納米級高精度白光干涉測厚儀
      SuperViewW1納米級高精度白光干涉測厚儀

      中圖儀器SuperViewW納米級高精度白光干涉測厚儀的復合型EPSI重建算法,解決了傳統相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。在自動(dòng)拼接模塊下,只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn),即可自動(dòng)掃描,重建其超光滑的表面區域,不見(jiàn)一絲重疊縫隙。

      時(shí)間:2024-06-14型號:SuperViewW1訪(fǎng)問(wèn)量:24
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    • CP200接觸式臺階儀測膜厚儀
      CP200接觸式臺階儀測膜厚儀

      CP系列接觸式臺階儀測膜厚儀超精密接觸式測量微觀(guān)輪廓,主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀(guān)形貌參數的測量。能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度,可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。

      時(shí)間:2024-06-14型號:CP200訪(fǎng)問(wèn)量:22
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    • VT6100微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡
      VT6100微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡

      VT6000微米級工件共聚焦3d測量顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,以轉盤(pán)共聚焦光學(xué)系統為基礎,能在樣品表面進(jìn)行快速點(diǎn)掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點(diǎn)并重建出3D真彩圖像,從而進(jìn)行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀(guān)形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。

      時(shí)間:2024-06-12型號:VT6100訪(fǎng)問(wèn)量:65
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    • C200接觸式表面形貌臺階測量?jì)x
      C200接觸式表面形貌臺階測量?jì)x

      CP系列接觸式表面形貌臺階測量?jì)x用于測量臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀(guān)形貌參數,是一款超精密接觸式微觀(guān)輪廓測量?jì)x器。它采用了線(xiàn)性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調節的能力和亞埃級的分辨率。

      時(shí)間:2024-06-07型號:C200訪(fǎng)問(wèn)量:82
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    • SuperViewW1中圖精密白光干涉儀
      SuperViewW1中圖精密白光干涉儀

      SuperViewW中圖精密白光干涉儀基于白光干涉技術(shù)原理,結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量,可測各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀(guān)幾何輪廓、曲率等。

      時(shí)間:2024-06-07型號:SuperViewW1訪(fǎng)問(wèn)量:93
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    • VT6100材料表征3d共聚焦形貌顯微鏡
      VT6100材料表征3d共聚焦形貌顯微鏡

      中圖儀器VT6000材料表征3d共聚焦形貌顯微鏡基于光學(xué)共軛共焦原理,結合精密縱向掃描,通過(guò)系統軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數據處理與分析,可以獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數,從而實(shí)現器件表面形貌3D測量。

      時(shí)間:2024-06-13型號:VT6100訪(fǎng)問(wèn)量:96
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    • CP200微納樣品接觸式微觀(guān)表面臺階測量?jì)x
      CP200微納樣品接觸式微觀(guān)表面臺階測量?jì)x

      CP系列微納樣品接觸式微觀(guān)表面臺階測量?jì)x對被測樣品的反射率特性、材料種類(lèi)及硬度等均無(wú)特殊要求,廣泛應用于半導體、太陽(yáng)能光伏、光學(xué)加工、LED、MEMS器件、微納材料制備等各行業(yè)領(lǐng)域內的工業(yè)企業(yè)與高校院所等科研單位,其對表面微觀(guān)形貌參數的準確表征,對于相關(guān)材料的評定、性能的分析與加工工藝的改善具有重要意義。

      時(shí)間:2024-06-13型號:CP200訪(fǎng)問(wèn)量:105
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    • SuperViewW1高分辨率3d白光干涉儀
      SuperViewW1高分辨率3d白光干涉儀

      SuperViewW高分辨率3d白光干涉儀能夠以?xún)?yōu)于納米級的分辨率,測試各類(lèi)表面并自動(dòng)聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數??梢詮V泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

      時(shí)間:2024-06-12型號:SuperViewW1訪(fǎng)問(wèn)量:168
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